AIDA GELINA BRIKEN nToF CRIB ISOLDE CIRCE nTOFCapture DESPEC DTAS EDI_PSA 179Ta CARME StellarModelling DCF K40
  DESPEC, Page 3 of 35  ELOG logo
Entry  Wed Jan 15 11:58:08 2025, TD, Offline analysis data files S505 R3_9 - R3_128 (207Hg setting) 27x

Aanlysis data files R3_9 - R3_128 (207Hg setting)
Entry  Mon Jan 13 17:38:18 2025, TD, Offline analysis of S505 data files 10x

First timestamp of R2_105 0x16FAEC5E54AABF6C
Entry  Mon Jan 13 11:32:30 2025, TD, Offline analysis S505 data file R3_150 22x
Offline analysis of S505 data files R3_150

first WR ts
Entry  Sat Jan 11 14:14:21 2025, TD, aida06 crashed and rebooted 10.1.25 
aida06 crashed and rebooted sometime ( 14:48 - 23:25 ) yesterday. System console log appended.

Entry  Sat Jan 11 14:05:03 2025, TD, Saturday 11 January 2024 17x

14.37 Detector bias & leakage current OK - attachment 1
  
Entry  Thu Jan 9 16:25:51 2025, TD, LEC fast comparator threshold too low Screenshot_from_2025-01-09_17-28-45.png

LEC fast comparator has been set to 0x2 (200keV) which is *very* low and means the fast comparator will be triggering on noise.
    Reply  Thu Jan 9 17:36:50 2025, TD, LEC fast comparator threshold too low 

> LEC fast comparator has been set to 0x2 (200keV) which is *very* low and means the fast comparator will be triggering on noise.
       Reply  Thu Jan 9 17:56:14 2025, TD, LEC fast comparator threshold too low 
> > 
> > LEC fast comparator has been set to 0x2 (200keV) which is *very* low and means the fast comparator will be triggering on noise.
> > 
          Reply  Fri Jan 10 10:03:43 2025, TD, LEC fast comparator threshold too low 
> > > 
> > > LEC fast comparator has been set to 0x2 (200keV) which is *very* low and means the fast comparator will be triggering on noise.
> > > 
Entry  Thu Jan 9 15:43:17 2025, JB, CC, MP, Timing test platform moved in Screenshot_from_2025-01-09_16-41-48.pngScreenshot_from_2025-01-09_16-42-06.pngScreenshot_from_2025-01-09_16-42-46.png
16:30 We moved the platform in. The system was still biased and the DAQ was still running.

The system seems to be okay, temperatures OK. Bias voltage OK 685/1 and 685/2. Two FEEs - aida07 and aida12 are receiving a lot of trigger data
items from the fast discriminator. This is already a bit worrying. 685/3
Entry  Mon Dec 16 13:07:04 2024, JB, MP, CC, AIDA timing test 16x
https://elog.gsi.de/despec/Implantation+Stack/9?suppress=1 - Day 1 ELOG

Day2:

10:14 we set up the detector with the pulser in BB7 and started biasing the detector and setting up the DAQ. Water flow and temperature check,
    Reply  Tue Dec 17 12:45:36 2024, JB, MP, CC, AIDA timing test IMG_2536.jpeg20241217_141148.jpg20241217_141206.jpg
 




Quote:



https://elog.gsi.de/despec/Implantation+Stack/9?suppress=1 - Day 1 ELOG
    Reply  Wed Jan 8 16:47:05 2025, JB, MP, CC, AIDA timing test Screenshot_from_2025-01-08_17-51-51.png
 




Quote:



https://elog.gsi.de/despec/Implantation+Stack/9?suppress=1 - Day 1 ELOG
       Reply  Thu Jan 9 12:46:43 2025, JB, MP, CC, AIDA timing test AIDAfasttime_bPlastWRdt_AIDA10.pngAIDACalAdcFasttime.pngAIDAfasttime_bPlastWRdt_AIDA10_nopulser.pngCentrepeak_gauss_fit.png
 




Quote:



 
Entry  Wed Jan 8 10:46:50 2025, TD, Report - aida06 -boot fail due to network issue 
8:01:25/11:42:48|0x000000d00000-0x000000fe0000 : "user_kernel"
08:01:25/11:42:48|0x000000fe0000-0x000001000000 : "env_variables"
08:01:25/11:42:48|xilinx-xps-spi 81400400.hd-xps-spi: at 0x81400400 mapped to 0xD1028400, irq=20
Entry  Wed Jan 8 10:08:29 2025, JB, GB, SD, MP, CC, JG, AIDA noise test with platform in position Screenshot_from_2025-01-09_09-32-08.pngScreenshot_from_2025-01-09_09-35-11.pngScreenshot_from_2025-01-09_09-32-20.pngScreenshot_from_2025-01-09_09-31-58.png
Yesterday we spent time essentially performing a dry run to get AIDA DAQ and bPlast into the time sorter, there were some issues with the AIDA mbs PC
x86l-119 which was related to some boot issue, it was booting to a newer version of debian while the Relay for AIDA to MBS is on an older version (scratch)
(the machine is quite old). We spent a bit of time getting the thresholds correct for each of the ASICs. In the end we just elected to have a blanket level
Entry  Mon Dec 30 15:43:42 2024, TD, [How To] Restart AnyDesk 

See also https://elog.ph.ed.ac.uk/CARME/489
Entry  Mon Dec 23 10:54:46 2024, TD, Monday 23 December 2024 

11.54 re-established remote access via AnyDesk - details to follow
Entry  Sat Dec 14 11:52:42 2024, TD, Saturday 14 December 27x

11:00 Visual inspection FEE64 adaptor PCBs & cabling
      aida02 ground from/to other FEE64s disconnected - re-connected
Entry  Wed Dec 11 14:46:21 2024, TD, JB, CC, MP, Mounting of AIDA, bPlast and BB7 for test 20241211_161837.jpg20241211_161833.jpg20241211_161830.jpg20241211_161820.jpg
Snout assembled for detector position and timing test.

The planned test is to use a BGO with a 22-Na source and the implantation stack to characterise the timing and position of back-to-back 511 keV
events (proxy for mock beta decay event).
Entry  Mon Dec 9 12:28:01 2024, NH, CC, MP, Test of BB7 on AIDA Electronics 
BB7 connected to aida07, sitting in a cardboard box

Update Tcl/Tml files in ASIC, ASIC4 and sys.tml frm PJCS email to allow setting per-ASIC polarity on FEE64
Entry  Thu Dec 5 11:18:46 2024, TD, Offline analysis S100 data files R21_0-R21_99 23x
Offline analysis of S100 data files R21_0 - R21_99 (162Eu setting)

first WR ts
Entry  Wed Dec 4 09:57:24 2024, TD, HISPEC DESPEC meeting presentation - November 2024 -0 Summary of AIDA performance 2024 Summary_of_AIDA_2024_distro.pdf
 
Entry  Tue Nov 19 11:24:25 2024, TD, Anydesk restarted remotely 

Anydesk restarted remotely per https://elog.ph.ed.ac.uk/CARME/489
Entry  Tue Nov 5 15:19:35 2024, TD, S505 offline analysis R5_780 - R5_814 24x
Offline analysis of data files S505/R5_780 - R5_814 (corresponding to MBS data files 73-74) 

Can find an analysis of alpha background runs at RIBF, RIKEN for comparison at https://elog.ph.ed.ac.uk/AIDA/816
Entry  Wed Aug 14 12:40:11 2024, JB, Repaired DSSSD delivery 14.09.2024 11x
Three BB18-1000 triples AIDAs collected on 14.09.2024

Find attached visual of the wafer and bond wire + factory bias tests accompanying the DSSSDs. elog:669/1
elog:669/2 elog:669/3
ELOG V3.1.3-7933898